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Sistema armonizado
Sección XVIII > Capítulo 90 > Encabezado 9030 > 9030.8 > 9030.82
… Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los …
Sección VI > Capítulo 37 > Encabezado 3702 > 3702.4 > 3702.41
… anchura superior a 610 mm y longitud superior a 200 m, para fotografía en colores (policroma) …
Sección VI > Capítulo 37 > Encabezado 3702 > 3702.4 > 3702.42
… superior a 610 mm y longitud superior a 200 m, excepto para fotografía en colores …
Sección XIII > Capítulo 70 > Encabezado 7019 > 7019.6 > 7019.63
… Tejidos de hilados de malla cerrada, de ligamento tafetán, sin recubrir ni estratificar …
Sección XVIII > Capítulo 90 > Encabezado 9022 > 9022.1 > 9022.12
… Aparatos de tomografía regidos por una máquina automática de tratamiento …
Sección XVI > Capítulo 84 > Encabezado 8486 > 8486.10
… en forma de monocristales periformes u obleas («wafers») …
Sección XV > Capítulo 81 > Encabezado 8109 > 8109.2 > 8109.21
… Con un contenido inferior a 1 parte de hafnio (celtio) por 500 partes de circonio, en peso …
Sección XV > Capítulo 81 > Encabezado 8109 > 8109.3 > 8109.31
… Con un contenido inferior a 1 parte de hafnio (celtio) por 500 partes de circonio, en peso …
Sección XV > Capítulo 81 > Encabezado 8109 > 8109.9 > 8109.91
… Con un contenido inferior a 1 parte de hafnio (celtio) por 500 partes de circonio, en peso …