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Sistema armonizado
Sección XVIII > Capítulo 90 > Encabezado 9030 > 9030.8 > 9030.82
For measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
Sección XVIII > Capítulo 90 > Encabezado 9030 > 9030.8 > 9030.84
Other, with a recording device
Sección XVIII > Capítulo 90 > Encabezado 9030 > 9030.90
Parts and accessories
Sección XVIII > Capítulo 90 > Encabezado 9031 > 9031.4
Other optical instruments and appliances
Sección XVIII > Capítulo 90 > Encabezado 9031 > 9031.10
Machines for balancing mechanical parts
Sección XVIII > Capítulo 90 > Encabezado 9031 > 9031.4 > 9031.41
For inspecting semiconductor wafers or devices (including integrated circuits) or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices (including integrated circuits)
Sección XVIII > Capítulo 90 > Encabezado 9031 > 9031.80
Other instruments, appliances and machines